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KAMAKIRI MEM-AS 동적 복굴절 영역 스캔 시스템
Photonic Lattice

KAMAKIRI MEM-AS 동적 복굴절 영역 스캔 시스템

KAMAKIRI MEM-AS Off-line Area-Scan Birefringence Measurement System

점 측정으로는 샘플링 속도가 모자라 따라가지 못하는 동적인 복굴절 변화를 영역 스캔으로 고속 측정합니다. 임의 지점의 시계열 데이터로 수지 압출 흐름의 변동, 연신 속도, 강도 불균일을 평가하고 분포 변화를 동영상(AVI)으로 저장합니다.

주요 특징

  • 기존 편광 측정의 점 측정으로는 부족한 샘플링 속도를 영역 스캔 고속 측정으로 보완
  • 측정점 수 424×340의 영역 스캔 — 면으로 재기 때문에 흐르는 중의 변화를 놓치지 않습니다
  • 임의 지점의 시계열 데이터로 수지 압출 흐름의 변동·연신 속도·강도 불균일 평가
  • 위상차와 배향각 분포의 변화를 동영상(AVI)으로 저장 — 측정 데이터 설명에 그대로 사용
  • 적용 — 다이 출구의 위상차, 배향 얼룩의 변동, 복굴절 평가, 연신기 안에서 연신 중인 척 주변 거동 평가
  • 위상차 측정 범위 0~260nm · 반복 재현성 위상차 ±1nm 미만 · 배향각 ±1° 미만
  • 인장 시험기·연신기 등 고객 시험기에 맞춘 전용 장착 기구 제작 실적
  • 전폭 인라인 전수 검사가 필요해지면 KAMAKIRI STS-LS로 개조 가능

상세 사양

측정 방식편광 고속 카메라 + 스캔 기구
스캔 방식영역 스캔
주요 용도개발품 평가
시스템 특징동적 현상 측정 · 각종 시험기에 부착 가능 · STS 개조 가능
출력 항목위상차(nm), 배향각(°)
측정 범위위상차 0~260nm · 배향각 0~180°
반복 재현성위상차 ±1nm 미만 · 배향각 ±1° 미만 — 제조사 지정 측정 조건에서 기준 위상차판으로 평가, 배향각은 위상차 10nm 이상 구간 기준
측정 중심 파장543nm (변경은 제조사 문의)
측정점 수424 × 340
소프트웨어KAMAKIRI Off-line Basic Software (일본어/영어)
커스터마이즈 실적연신기·인장 시험기 등 고객 설비 전용 장착 기구 제공 · 현미경 계열에 부착해 고분자·결정 구조 관찰

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