KAMAKIRI MEM-LS 인라인 부분 복굴절 검사 시스템
KAMAKIRI MEM-LS In-line Mapping-Type Birefringence Measurement System
카메라 한 대로 라인에서 보고 싶은 구간과 필름 폭 방향의 일부를 샘플링 검사하듯 인라인으로 측정합니다. 잘라 낸 시료를 가져와 재던 샘플링 검사 시간을 줄여 불량 생산을 빨리 멈추고, 전폭 전수 검사가 필요해지면 KAMAKIRI STS-LS로 개조할 수 있습니다.
주요 특징
- 카메라 1대로 여러 라인의 가동 준비와 조정을 지원 — 주목하는 위치만 부분 검사
- 라인 상황에 맞춰 옮겨 쓰는 이동형 설치, 임의 지점을 재는 트래버스 방식
- 샘플링 검사 시간 단축으로 불량 생산을 조기에 중단 — 수율 향상을 기대할 수 있습니다
- 약 1시간 연속 검사에 맞춘 시스템 구성
- 라이브 모니터링 — 위상차·배향각 분포 실시간 갱신, 폭 방향 라인 프로파일, 양품·불량 판정
- 저장 후 해석 — 통계값(최대·최소·평균·표준편차), 폭 방향·반송 방향 라인 프로파일
- 라인 상황에 맞춘 설치 지그 제작 대응
- 장치 고정이나 전폭 측정이 필요해지면 KAMAKIRI STS-LS로 개조·갱신 가능
- 위상차 측정 범위 0~260nm · 카메라 1대당 라인 스캔 측정 폭 약 600mm · 대응 반송 속도 최대 30m/min
- 커스터마이즈 실적 — 카메라 1대로 폭 2m 필름을 재는 트래버스 시스템, 밀리미터 단위 복굴절 얼룩 검출 모드
문의사항 · dh_jang@bionlifescience.com
상세 사양
| 측정 방식 | 편광 고속 카메라 + 스캔 기구 |
| 스캔 방식 | 라인 스캔 |
| 주요 용도 | 부분 검사 · 시제품 생산 라인 평가 |
| 시스템 특징 | 단순한 구성 · 라이브 모니터링 · STS 개조 가능 |
| 출력 항목 | 위상차(nm), 배향각(°) |
| 측정 범위 | 위상차 0~260nm · 배향각 0~180° |
| 반복 재현성 | 위상차 ±1nm 미만 · 배향각 ±1° 미만 — 제조사 지정 측정 조건에서 기준 위상차판으로 평가, 배향각은 위상차 10nm 이상 구간 기준 |
| 측정 중심 파장 | 543nm (변경은 제조사 문의) |
| 측정점 수 | 424 |
| 라인 스캔 최대 측정 폭 | 약 600mm (카메라 1대 기준) |
| 대응 반송 속도 | 최대 30m/min (그 이상은 제조사 문의) |
| 소프트웨어 | KAMAKIRI In-line Basic Software (일본어/영어) |
| 커스터마이즈 실적 | 카메라 1대로 폭 2m 필름을 재는 트래버스 시스템 · 밀리미터 단위 복굴절 얼룩 검출 모드 |
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