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KAMAKIRI STS-LS 필름 전폭 인라인 복굴절 검사 시스템
Photonic Lattice

KAMAKIRI STS-LS 필름 전폭 인라인 복굴절 검사 시스템

KAMAKIRI STS-LS In-line Mapping-Type Birefringence Measurement System

장시간 연속 생산되는 필름을 반송 중에 전폭·전장으로 스캔해 전수 검사하는 인라인 구성입니다. PA·WPA 시리즈가 한 시야를 찍어 그 안의 분포를 본다면, 이쪽은 흐르는 필름을 계속 이어 붙여 롤 전체를 기록하고 양품·불량 판정으로 불량이 흘러 나가기 전에 생산을 멈추는 쪽입니다.

주요 특징

  • 연속 생산 필름의 전폭·전장 전수 검사 — 시료를 잘라 내 재는 방식으로는 볼 수 없는 구간까지 남김없이 기록
  • 필름 폭에 맞춰 카메라를 여러 대 연결, 전 카메라의 측정 결과를 한 화면에 실시간 표시
  • 위상차 이상을 검출하면 경광등과 화면으로 현장 담당자에게 즉시 경보
  • 양품·불량 판정으로 불량 조기 검출 — 적정 생산 로트 범위 안에서 유출 차단
  • 필름 절단 신호를 입력하면 생산 로트 단위로 데이터 자동 분할·저장, 일시 자동 기록
  • 연속 검사로 쌓이는 대용량 데이터를 스토리지로 관리 · 버퍼 스토리지로 기록 용량 부족 시 데이터 유실 방지
  • 라이브 표시 — 광학 변형 분포와 폭 방향·반송 방향 추이 그래프를 현장 모니터에서 실시간 확인
  • 위상차 측정 범위 0~260nm · 반복 재현성 위상차 ±1nm 미만 · 배향각 ±1° 미만
  • 카메라 1대당 라인 스캔 측정 폭 약 600mm · 대응 반송 속도 최대 30m/min
  • 커스터마이즈 실적 — 폭 5m를 넘는 필름용 해석 시스템, 특징적인 복굴절 얼룩 검출 알고리즘 개발

상세 사양

측정 방식편광 고속 카메라 + 스캔 기구
스캔 방식라인 스캔
주요 용도필름 전폭·전장 검사 · 생산 라인 평가
시스템 특징전폭·전장 검사 · 상세 데이터 해석 · 전폭 라이브 모니터링
출력 항목위상차(nm), 배향각(°)
측정 범위위상차 0~260nm · 배향각 0~180°
반복 재현성위상차 ±1nm 미만 · 배향각 ±1° 미만 — 제조사 지정 측정 조건에서 기준 위상차판으로 평가, 배향각은 위상차 10nm 이상 구간 기준
측정 중심 파장543nm (변경은 제조사 문의)
측정점 수424
라인 스캔 최대 측정 폭약 600mm (카메라 1대 기준)
대응 반송 속도최대 30m/min (그 이상은 제조사 문의)
소프트웨어KAMAKIRI Live Viewer 등 (일본어/영어)
커스터마이즈 실적폭 5m 초과 필름 해석 시스템 · 특징적인 복굴절 얼룩 검출 알고리즘 개발

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