KAMAKIRI X-Stage 데스크톱 복굴절 검사 시스템
KAMAKIRI X-Stage Desktop Line-Scan Birefringence Measurement System
책상 위에 올려 쓰는 소형 라인 스캔 검사 장치입니다. 기본 알고리즘이 인라인 시스템과 같아 제조사가 인라인 도입 전의 평가용 장비로 안내하는 구성이며, 재단 샘플로 검출 가능성과 양품·불량 판정 기준을 미리 확정한 뒤 KAMAKIRI STS-LS로 넘어갈 수 있습니다.
주요 특징
- 라인 스캔 방식의 소형 데스크톱 검사 장치 — 샘플링 검사와 개발품 평가용
- 기본 알고리즘을 인라인 시스템과 통일 · STS와 높은 상관성
- 인라인 도입 전 평가용 — 재단 샘플로 검출 가능성을 확인하고 자체 양품·불량 판정 기준과 판정 알고리즘을 먼저 확정
- 데스크톱 타입에서 인라인 타입으로 개조 가능 — 낮은 투자로 인라인 검사 체계까지 이어집니다
- 미세 변형 평가
- 위상차 측정 범위 0~260nm · 측정점 수 424 · 측정 중심 파장 543nm
- 반복 재현성 위상차 ±1nm 미만 · 배향각 ±1° 미만
- 커스터마이즈 실적 — 폭 1500mm 필름을 1회 스캔으로 재는 대형 X 스테이지 제작
문의사항 · dh_jang@bionlifescience.com
상세 사양
| 측정 방식 | 편광 고속 카메라 + 스캔 기구 |
| 스캔 방식 | 라인 스캔 |
| 주요 용도 | 샘플링 검사 · 개발품 평가 |
| 시스템 특징 | 미세 변형 평가 · STS와 높은 상관성 · STS 개조 가능 |
| 출력 항목 | 위상차(nm), 배향각(°) |
| 측정 범위 | 위상차 0~260nm · 배향각 0~180° |
| 반복 재현성 | 위상차 ±1nm 미만 · 배향각 ±1° 미만 — 제조사 지정 측정 조건에서 기준 위상차판으로 평가, 배향각은 위상차 10nm 이상 구간 기준 |
| 측정 중심 파장 | 543nm (변경은 제조사 문의) |
| 측정점 수 | 424 |
| 소프트웨어 | KAMAKIRI In-line Basic Software (일본어/영어) |
| 커스터마이즈 실적 | 폭 1500mm 필름을 1회 스캔으로 측정하는 대형 X 스테이지 제작 |
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