TGV 초미세 크랙 검사 장비 · Photonic Lattice
Photonic Lattice 제품 12개
2026년 삼성 요소기술 전시회 실장 구성
PA-micro-N 전동 현미경 복굴절·응력 측정 시스템
PA-micro-N Motorized Microscope Birefringence Measurement System
니콘 ECLIPSE L200ND 현미경에 편광 이미지 센서를 결합해 유리 내부의 미세 크랙과 잔류 응력을 최대 100배 배율로 측정합니다. XY 전동 스테이지가 ±100mm 범위를 반복 정밀도 ±2µm로 이송하므로, 좌표를 기록해 두면 공정 전후의 같은 지점을 다시 찾아 비교할 수 있습니다.
PA 시리즈 대면적 복굴절·응력 측정 시스템
PA Series Large-Area Birefringence Measurement System
판 단위의 넓은 면적을 한 번에 촬영해 잔류 응력 분포를 확인하는 구성입니다. 현미경 배율이 필요한 미세 영역 관찰에는 PA-micro가 적합합니다.
WPA-200 시리즈 대면적 복굴절·응력 측정 시스템
WPA-200 Series 2-D Birefringence Measurement System
3파장으로 측정해 위상차 범위를 0~3,500nm까지 넓힌 구성입니다. 위상차가 작은 유리·기판은 PA 시리즈가, 필름이나 두꺼운 수지 성형품처럼 위상차가 큰 대상은 이쪽이 맞습니다.
WPA-300 시리즈 고해상 복굴절·응력 측정 시스템
WPA-300 Series 2-D Birefringence Measurement System
WPA-200의 0~3,500nm 측정 범위를 그대로 두고 편광 이미지 센서의 해상도를 약 5배로 올린 상위 구성입니다. 작고 미세한 위상차 변화를 더 또렷하게 봅니다.
WPA-KAMAKIRI 고공간분해 복굴절·응력 측정 시스템
WPA-KAMAKIRI 2D Birefringence Measurement System
WPA 시리즈 중 공간 분해가 중요한 대상에 맞춘 구성입니다. 위상차가 1,000nm를 넘는 PET 필름이나 수지 성형품은 한 파장만으로는 분포를 가릴 수 없어, 523·543·575nm 세 파장에서 잰 값을 견줘 약 3,000nm까지 정량화합니다.
CRYSTA Nova S16 고속 편광 카메라
CRYSTA Nova S16 High-speed Polarization Camera
1024×1024 화소를 최대 16,000fps로 찍으면서 화소마다 위상차와 배향각을 함께 얻습니다. PA 시리즈가 멈춰 있는 잔류 응력을 본다면 이쪽은 응력이 퍼져 나가는 순간을 봅니다.
카메라 헤드와 전용 PC 구성
CRYSTA PI-5WP 소형 고속 편광 카메라
CRYSTA PI-5WP High-speed Polarization Camera
카메라 헤드가 74×75×62mm·0.48kg인 소형 구성으로, 촬영 영상을 PC 메모리로 실시간 전송하고 임베디드 개발용 SDK를 기본 제공합니다. 위상차 측정 범위는 0~260nm로 CRYSTA Nova S16의 두 배입니다.
KAMAKIRI STS-LS 필름 전폭 인라인 복굴절 검사 시스템
KAMAKIRI STS-LS In-line Mapping-Type Birefringence Measurement System
장시간 연속 생산되는 필름을 반송 중에 전폭·전장으로 스캔해 전수 검사하는 인라인 구성입니다. PA·WPA 시리즈가 한 시야를 찍어 그 안의 분포를 본다면, 이쪽은 흐르는 필름을 계속 이어 붙여 롤 전체를 기록하고 양품·불량 판정으로 불량이 흘러 나가기 전에 생산을 멈추는 쪽입니다.
KAMAKIRI MEM-LS 인라인 부분 복굴절 검사 시스템
KAMAKIRI MEM-LS In-line Mapping-Type Birefringence Measurement System
카메라 한 대로 라인에서 보고 싶은 구간과 필름 폭 방향의 일부를 샘플링 검사하듯 인라인으로 측정합니다. 잘라 낸 시료를 가져와 재던 샘플링 검사 시간을 줄여 불량 생산을 빨리 멈추고, 전폭 전수 검사가 필요해지면 KAMAKIRI STS-LS로 개조할 수 있습니다.
KAMAKIRI 복굴절 측정 모듈
KAMAKIRI Birefringence Measurement Module
생산 라인에 검사 장비를 놓을 공간이 나오지 않을 때 기존 설비에 끼워 넣는 최소 구성입니다. 위치 조정 기구와 광학 보정 데이터를 설치 환경에 맞춰 제공하고, 여러 대를 설치하면 측정 개시 신호를 동기해 전 대수가 동시에 측정합니다.
KAMAKIRI MEM-AS 동적 복굴절 영역 스캔 시스템
KAMAKIRI MEM-AS Off-line Area-Scan Birefringence Measurement System
점 측정으로는 샘플링 속도가 모자라 따라가지 못하는 동적인 복굴절 변화를 영역 스캔으로 고속 측정합니다. 임의 지점의 시계열 데이터로 수지 압출 흐름의 변동, 연신 속도, 강도 불균일을 평가하고 분포 변화를 동영상(AVI)으로 저장합니다.
KAMAKIRI X-Stage 데스크톱 복굴절 검사 시스템
KAMAKIRI X-Stage Desktop Line-Scan Birefringence Measurement System
책상 위에 올려 쓰는 소형 라인 스캔 검사 장치입니다. 기본 알고리즘이 인라인 시스템과 같아 제조사가 인라인 도입 전의 평가용 장비로 안내하는 구성이며, 재단 샘플로 검출 가능성과 양품·불량 판정 기준을 미리 확정한 뒤 KAMAKIRI STS-LS로 넘어갈 수 있습니다.